膜厚控制仪

 

  美国 INFICON 公司 ( 原属莱宝的仪器部门 ) 所生产的膜厚控制仪是目前世界上应用最广 , 使用最多的晶振式测量仪。适用于多源,多坩埚,多材料或多过程系统的膜层沉积速率和膜厚。 IC5 可为源控制或图形记录仪输出提供 6 个可赋值的模拟输出,沉积速率,膜厚或沉积速率的偏离 , 可控制 100 多层膜的共沉积 , 是目前世界上晶振测量原理中精度最高的一种。


  Feedthrough_and_sensors.pdf
  IC5.pdf
  XTC2_XTCC.pdf
  XTM2.pdf
  原理.pdf
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